+ 8618117273997Weixin
Angielski
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語
24 lis, 2015 Odwiedzin 2650 Autor: korzeń

CIE opublikowało najnowsze CIE S025 Standard testowania lamp LED, opraw oświetleniowych LED i modułów LED

CIE opublikowało najnowsze CIE S025 Standard testowania lamp LED, opraw oświetleniowych LED i modułów LED

CIE opublikowało najnowsze CIE S025 Standard testowania lamp LED, opraw oświetleniowych LED i modułów LED

CIE opublikowało niedawno pierwszy międzynarodowy standard pomiarowy dla lamp LED, opraw LED i modułów LED, tj. CIE S025(http://div2.cie.co.at/?i_ca_id=563).

CIE Division 2 przedstawi dwudniowy samouczek dotyczący nowego standardu, który obejmuje praktyczną pracę w laboratoriach Wydziału Fotometrii i Radiometrii Stosowanej PTB.

Zaproszeni eksperci przedstawią wykłady od podstawowych koncepcji po zaawansowane techniki pomiarów fotometrycznych i kolorymetrycznych, skierowane do inżynierów, personelu laboratorium testowego i badaczy w zakresie pomiarów oświetlenia LED i półprzewodnikowego oraz innych powiązanych dziedzin. Szczególny nacisk zostanie położony na ocenę niepewności pomiaru.

Ponadto odbędą się spotkania komitetów technicznych CIE oraz zostaną zaprezentowane pośrednie wyniki dwóch europejskich projektów badawczych związanych z fotometrią i radiometrią, tj. MESaIL i NEWSTAR.

Jako członek CIE i jeden ze sponsorów tego sympozjum CIE Tutorial and Expert Symposium, Lisun rozszerzymy współpracę w zakresie oświetlenia i zapewnimy skuteczną obsługę.

CIE zorganizowała kolację instruktażową po spotkaniach z 24 listopada, do której przyłączyło się 50 pracowników CIE i profesjonalny badacz. Oto kilka zdjęć zrobionych na stronie z kolacją:

CIE opublikowało najnowsze CIE S025 Standard testowania lamp LED, opraw oświetleniowych LED i modułów LED

CIE opublikowało najnowsze CIE S025 Standard testowania lamp LED, opraw oświetleniowych LED i modułów LED

Zdjęcie 1 to dr Yoshi Ohno (jego stanowisko pracy: wiceprezes ds. Technicznych i prezydent elekt CIE i członek NIST w Sensor Science Division NIST w USA)

Dowiedz się więcej, sprawdź tutaj: http://div2.cie.co.at/?i_ca_id=974

Tagi: , , , ,

Zostaw wiadomość

Twoj adres e-mail nie bedzie opublikowany. Wymagane pola są zaznaczone *

=