IEC 62595-2-5 Jednostka oświetlenia wyświetlacza - Część 2-5: Metoda pomiaru wielkości optycznych niepłaskich źródeł światła

W niniejszej części IEC 62595 określono metody pomiarowe do pomiaru właściwości optycznych wypukłych i wklęsłych cylindrycznych źródeł światła. Te niepłaskie źródła światła (NPLS) mogą mieć albo ciągłą, odrębną, segmentową albo blokową powierzchnię promieniującą światło, na przykład panele OLED, zintegrowane diody LED, zintegrowane mini-diody LED, mikro-diody LED, diody laserowe, z których każda jest monochromatyczna lub polichromatyczny.

Odniesienia normatywne

Poniższe dokumenty są powołane w tekście w taki sposób, że część lub całość ich treści stanowi wymagania niniejszego dokumentu. W przypadku odniesień datowanych obowiązuje tylko cytowane wydanie.
W przypadku odniesień bez daty zastosowanie ma najnowsze wydanie dokumentu, do którego następuje odwołanie (wraz ze wszelkimi poprawkami).

IEC 61747-6-2, Urządzenia wyświetlaczy ciekłokrystalicznych - Część 6-2: Metody pomiaru modułów wyświetlaczy ciekłokrystalicznych - Typ odblaskowy

IEC 62595-2-1, Jednostka oświetlenia wyświetlacza - Część 2-1: Elektrooptyczne metody pomiaru jednostki podświetlenia LED

IEC 62595-2-3, Jednostka oświetlenia wyświetlacza - Część 2-3: Elektrooptyczne metody pomiaru jednostki oświetlenia przedniego LED

IEC 62679-3-3, Elektroniczne wyświetlacze papierowe - Część 3-3: Optyczne metody pomiaru wyświetlaczy ze zintegrowanymi jednostkami oświetleniowymi
IEC 62922, Panele z organicznymi diodami elektroluminescencyjnymi (OLED) do oświetlenia ogólnego — Wymagania dotyczące wydajności

ISO/CIE 11664-3, Kolorymetria – Część 3: Wartości trójchromatyczne CIE

ISO/CIE 19476, Charakterystyka działania mierników natężenia oświetlenia i mierników luminancji

CIE S 017/E:2020, Międzynarodowy Słownik Oświetlenia

CIE 1931, Przestrzeń barw

Urządzenia pomiarowe

W 4.1 do 4.5 stosuje się urządzenie do pomiaru światła, takie jak spektrometr, kula całkująca i goniometr z LMD. Dodatkowo zastosowano trzy osiowe stopnie mocowania badanego urządzenia.

Do oceny wyników pomiarów wykorzystuje się kartezjański i sferyczny układ współrzędnych, jak pokazano na rysunku 1.

LISUN następujące przyrządy w pełni spełniają normę IEC 62595-2-5 Jednostka oświetlenia wyświetlacza — część 2-5: Metoda pomiaru wielkości optycznych niepłaskich źródeł światła:

XYL-VI Kolorymetr luminancji

LSG-1890BCCD Wysokoprecyzyjny gonospektroradiometr oprawy oświetleniowej

LPCE-3 Spektroradiometr CCD integrujący sferyczny system kompaktowy

LPCE-2(LMS-9000) High Precision Spectroradiometer Integrujący system sfer