Sonda/klin dostępności (S5366 + S5370) UL 60950-1 Rysunek NAF.2 i NAF.3

1. Norma odniesienia:

UL60950 Rysunek NAF2 i NAF3

Sonda klinowa UL 60950 do niszczarek papieru

2. Szczegóły produktu:

Produkt służy do testowania dostępu do niszczarek dokumentów. Przegubowa sonda klinowa dostępności to bardzo precyzyjna sonda wykonana dokładnie zgodnie z normami UL i IEC, takimi jak UL60950, rysunek NAF2 i NAF3.

Sonda/klin dostępności (S5366 + S5370) UL 60950-1 Rysunek NAF.2 i NAF.3

Sonda/klin dostępności (S5366 + S5370) UL 60950-1 Rysunek NAF.2 i NAF.3