+ 8618117273997Weixin
Angielski
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語

ANSI/IES LM-80 Pomiar utrzymania charakterystyki strumienia świetlnego źródeł półprzewodnikowych

W niniejszej zatwierdzonej metodzie opisano procedury, za pomocą których półprzewodnikowe źródła światła, takie jak zestawy, matryce i moduły LED; lub pakiety, matryce i moduły diod laserowych mogą być testowane pod kątem utrzymania strumienia w czasie, w tym utrzymania strumienia świetlnego, strumienia promieniowania i strumienia fotonów. W niniejszym dokumencie przedstawiono również metody pomiaru zachowania charakterystyk zależnych od widma, w tym zmian współrzędnych chromatyczności, szczytowej długości fali, dominującej długości fali, środka ciężkości długości fali i widmowego rozkładu mocy w czasie, gdy przeprowadza się je w kontrolowanych warunkach środowiskowych i operacyjnych. Do celów niniejszego dokumentu półprzewodnikowe źródła światła obejmują źródła ultrafioletowe, widzialne i podczerwone emitujące promieniowanie optyczne w zakresie od 200 nm do 2,000 nm.

Niniejsza zatwierdzona metoda nie obejmuje lamp, lekkich silników ani opraw oświetleniowych i nie zawiera wskazówek dotyczących szacunków predykcyjnych lub ekstrapolacji charakterystyk konserwacji wykraczających poza czas trwania rzeczywistych pomiarów.

LISUN poniższe instrumenty w pełni spełniają ANSI/IES LM-80 Pomiar utrzymania charakterystyki strumienia świetlnego źródeł półprzewodnikowych:

Zostaw wiadomość

Twoj adres e-mail nie bedzie opublikowany. Wymagane pola są zaznaczone *

=