W niniejszej zatwierdzonej metodzie opisano procedury, za pomocą których półprzewodnikowe źródła światła, takie jak zestawy, matryce i moduły LED; lub pakiety, matryce i moduły diod laserowych mogą być testowane pod kątem utrzymania strumienia w czasie, w tym utrzymania strumienia świetlnego, strumienia promieniowania i strumienia fotonów. W niniejszym dokumencie przedstawiono również metody pomiaru zachowania charakterystyk zależnych od widma, w tym zmian współrzędnych chromatyczności, szczytowej długości fali, dominującej długości fali, środka ciężkości długości fali i widmowego rozkładu mocy w czasie, gdy przeprowadza się je w kontrolowanych warunkach środowiskowych i operacyjnych. Do celów niniejszego dokumentu półprzewodnikowe źródła światła obejmują źródła ultrafioletowe, widzialne i podczerwone emitujące promieniowanie optyczne w zakresie od 200 nm do 2,000 nm.
Niniejsza zatwierdzona metoda nie obejmuje lamp, lekkich silników ani opraw oświetleniowych i nie zawiera wskazówek dotyczących szacunków predykcyjnych lub ekstrapolacji charakterystyk konserwacji wykraczających poza czas trwania rzeczywistych pomiarów.
LISUN poniższe instrumenty w pełni spełniają ANSI/IES LM-80 Pomiar utrzymania charakterystyki strumienia świetlnego źródeł półprzewodnikowych:
Twoj adres e-mail nie bedzie opublikowany. Wymagane pola są zaznaczone *