+ 8618117273997Weixin
AngielskiAngielski
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語
Home Produkty Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950
Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950 Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950
Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950 Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

POPROSIĆ O WYCENĘ

=

Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

Nr produktu: SMT-950K

  • SPECYFIKACJA
  • Artykuły techniczne

  • Składa się z pięciu sond testowych:

    1) Wspólny palec probierczy IEC60950 rys.2A: LISUN model jest SMT-02T10
    2) Sztywny palec testowy: LISUN model jest SMT-1150
    3) Pin testowy IEC60950 rys.2B: LISUN model jest SMT-1213
    4) Sonda testowa IEC60950 rys.2C: LISUN model jest SMT-TD15
    5) Kula stalowa 50 mm / 500 g IEC60950 rys.4A: LISUN model jest SMT-B50H
    6) Sonda klinowa: LISUN model jest SMT-S113

    Standard:
    IEC 60950-1 „Urządzenia informatyczne – Bezpieczeństwo – Część 1: Wymagania ogólne”

    Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

    Wspólny palec testowy IEC60950 rys.2A

    Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

    Sztywny palec testowy

    Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

    Pin testowy IEC60950 rys.2B

    Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

    Sonda testowa IEC60950 rys. 2C

    Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

    Kula stalowa 50 mm / 500 g IEC60950 rys.4A

    Zestawy sond testowych zgodne z IEC 60950

    Sonda klinowa

     

    Tagi:

  • Co się stanie, jeśli norma IEC 60950-1 zostanie wycofana?

    10 lis, 2023

    Jeśli posiadasz produkty posiadające certyfikat 60950-1, możesz mieć pytania dotyczące tego, co dzieje się po...

    Norma UL 60950-1 dotycząca bezpieczeństwa sprzętu informatycznego

    12 Dec, 2023

    I. Norma UL 60950-1 dotycząca bezpieczeństwa urządzeń informatycznych Norma UL 60950-1 to...

Podobne produkty
Sztywny palec probierczy dla IEC 61010-1 Rysunek B.1

SMT-1211 Sztywny palec probierczy dla normy IEC 61010-1 Rysunek B.1

Standardowa sonda testowa 61032 IEC 11 o sile ciągu 50 N

SMT-1150 IEC 61032 Standardowa sonda testowa 11 z siłą ciągu 50 N

Sonda testowa 13 zgodnie z IEC 61032 – Krótki pin testowy

SMT-1213 Sonda testowa 13 normy IEC 61032 – krótki pin testowy

Prosty, niepołączony palec probierczy zgodnie z IEC 62109-1 Rysunek D.3

SMT-TD15 Prosty, niezłączny palec probierczy zgodny z normą IEC 62109-1 Rysunek D.3

IEC 60950 Rysunek 8 Kulka stalowa testowa o średnicy 50 mm

SMT-B50H IEC 60950 Figura 8, kulka stalowa o średnicy 50 mm

IEC 62368-1 Rysunek V.4 Sonda klinowa do testu niszczarek dokumentów

SMT-S113 IEC 62368-1 Rysunek V.4 Sonda klinowa do testu niszczarek dokumentów