LM-79 Goniofotometr z ruchomym detektorem (lustro typu C)
LSG-6000
Goniofotometr z precyzyjną rotacją oprawy
LSG-1890B
Wysokoprecyzyjny gonospektroradiometr oprawy oświetleniowej
LSG-1890BCCD
Goniofotometr do lamp samochodowych i sygnalizacyjnych
LSG-1950
Goniofotometr do lamp sygnalizacyjnych
LSG-1950S
Urządzenie sygnalizacji wizualnej VAD Fire Alarm Goniofotometr
LWG-1930
Kompaktowy goniofotometr
LSG-1200A
Goniofotometr LED
LWG-1100
Rozwiązania do testowania diod LED i opraw oświetleniowych
LM-79 oraz LM-80 Rozwiązania testowe
Rozwiązania do testowania sterowników LED
Rozwiązania testowe urządzeń gospodarstwa domowego
Rozwiązania do testów mobilnych i sieciowych
Rozwiązania do testowania elektroniki samochodowej
Rozwiązania testowe audio-wideo i IT
Rozwiązania do testowania kabli i przewodów
Rozwiązania testowe wtyczek i gniazd
Rozwiązania testowe przełączników zasilania
Rozwiązania do testów transformatorów
Rozwiązania testowe zabawek elektrycznych
Rozwiązania do testowania liczników energii
Rozwiązania testowe narzędzi napędzanych silnikiem
Wybierz organizację
przeglądać standardy
Komora testowa do szybkich zmian temperatury: odpowiednia do zastosowań w przemyśle lotniczym, elektronice informacyjnej, oprzyrządowaniu, materiałach, produktach elektrycznych i elektronicznych oraz różnych istotnych częściach, aby ocenić, czy parametry takie jak niezawodność, stabilność maszyny i wydajność są kwalifikowane w środowiskach o wysokiej i niskiej temperaturze lub wilgotnym upale i zostaną przekazane Podstawę do przewidywania i ulepszania produktu...
Komora testowa o szybkiej zmianie temperatury nadaje się do „testowania bezpieczeństwa komponentów elektrycznych i zapewnia testowanie niezawodności, badanie przesiewowe produktu”, a także może „poprawiać niezawodność produktu i kontrolę jakości” za pomocą tego sprzętu. Jej komora testowa jest używana jako powszechnie stosowane stanowisko testowe sprzęt w takich dziedzinach jak lotnictwo, samochody, sprzęt AGD i nauka...
Komora testowa do szybkich zmian temperatury: nadaje się do badania odporności na zimno produktów i części elektrycznych i elektronicznych, testu zdolności adaptacyjnych w warunkach szybkiej zmiany temperatury lub stopniowych zmian, dlatego szczególnie nadaje się do testów przesiewowych naprężeń środowiskowych (ESS) produktów elektrycznych i elektronicznych . Komora testowa szybkiej zmiany temperatury jest przeznaczona głównie do adaptacji...
Komora testowa do szybkich zmian temperatury nadaje się do testowania różnych wskaźników wydajności produktów w przemyśle lotniczym, elektronice informacyjnej, przyrządach i miernikach, materiałach, elektrotechnice, produktach elektronicznych i różnych komponentach elektronicznych w warunkach szybkich zmian temperatury. Komora testowa do szybkich zmian temperatury jest przeznaczona głównie do testowania zdolności adaptacyjnych urządzeń elektrycznych...
Można powiedzieć, że komorę testową szybkiej zmiany temperatury jest komorą testową szybkiej zmiany temperatury, która służy do kontroli różnych wskaźników wydajności produktów w przemyśle lotniczym, elektronice informacyjnej, instrumentach, materiałach, produktach elektrycznych i elektronicznych oraz różnych komponentach elektronicznych w warunkach szybkiego zmiany temperatury. Komora testowa szybkiej zmiany temperatury: używana głównie do e...
Komora testowa szybkiej zmiany temperatury nadaje się do „testowania bezpieczeństwa komponentów elektrycznych i zapewnia testowanie niezawodności oraz badanie przesiewowe produktu”. Jednocześnie sprzęt może być używany do „poprawy niezawodności i kontroli jakości produktów”. Jego komora testowa jest używana do powszechnie używanego sprzętu testowego w lotnictwie, motoryzacji, sprzęcie domowym...
Komora testowa szybkiej zmiany temperatury to sprzęt do testowania wydajności używany do badania materiałów i produktów w środowiskach o ekstremalnych temperaturach. Może szybko zmienić temperaturę badanej próbki poprzez automatyczne sterowanie, symulując w ten sposób ekstremalne środowisko w rzeczywistym procesie produkcji lub użytkowania. Główną funkcją komory testowej do szybkiej zmiany temperatury jest testowanie właściwości fizycznych...
Komora testowa szybkiej zmiany temperatury służy do testowania wydajności różnych materiałów w różnych środowiskach, takich jak odporność na ciepło, odporność na zimno, odporność na suchość i odporność na wilgoć. Nadaje się do testowania jakości produktów, takich jak „elektronika, urządzenia elektryczne, komunikacja, oprzyrządowanie, pojazdy, produkty z tworzyw sztucznych, metale, żywność, chemia, budownictwo…
Komora testowa szybkiej zmiany temperatury ma zastosowanie do wykrywania różnych wskaźników wydajności produktów lotniczych, elektroniki informacyjnej, przyrządów i mierników, materiałów, elektryków, produktów elektronicznych i różnych elementów elektronicznych w warunkach szybkiej zmiany temperatury. Komora testowa do szybkiej zmiany temperatury: Służy głównie do przeprowadzania symulacji środowiska ...
Komora do testowania temperatury z szybką zmianą temperatury i wilgotnością jest rodzajem sprzętu eksperymentalnego, który może w jednej chwili zrealizować szybką zmianę temperatury. Ten rodzaj sprzętu służy głównie do testowania wskaźników wydajności produktu w warunkach szybkiej zmiany wysokiej i niskiej temperatury. Mechanizm i charakterystyka komory testowej szybkiej zmiany temperatury z...
Komora testowa do szybkiej zmiany temperatury: nadaje się do testu odporności na zimno produktów i części elektrycznych i elektronicznych, testu zdolności adaptacyjnych w warunkach szybkiej zmiany temperatury lub stopniowej zmiany, dlatego szczególnie nadaje się do testu przesiewowego stresu środowiskowego (ESS) produktów elektrycznych i elektronicznych . Komora testowa z szybką zmianą temperatury jest przeznaczona głównie do adaptowaln...
Komora testowa szybkiej zmiany temperatury, która służy do testowania wskaźników wydajności produktów w warunkach szybkiej zmiany temperatury w lotnictwie, elektronice informacyjnej, przyrządach i miernikach, materiałach, produktach elektrycznych i elektronicznych oraz różnych komponentach elektronicznych. Komora testowa do szybkiej zmiany temperatury wykorzystuje „binarny system chłodzenia kaskadowego chłodzonego powietrzem i ...
Angielski
中文简体
Русский
Español
Português
Türkçe
العربية
Deutsch
Polski
Italiano
Français
한국어
ไทย
Tiếng Việt
日本語
