+ 8618117273997Weixin
Angielski
中文简体 中文简体 en English ru Русский es Español pt Português tr Türkçe ar العربية de Deutsch pl Polski it Italiano fr Français ko 한국어 th ไทย vi Tiếng Việt ja 日本語
09 Jan, 2012 Odwiedzin 6117 Autor: korzeń

Warunki testowe i definicje diod LED

1.LED
Oprócz laserów półprzewodnikowych, gdy prąd motywuje, diody półprzewodnikowe mogą emitować promieniowanie optyczne. Ściśle mówiąc, termin „LED” należy stosować wyłącznie do emitowania widzialnej diody; Dioda, która może emitować promieniowanie bliskiej podczerwieni, nazywana jest diodą emitującą światło podczerwone (IRED, Infrared Emitting Diode); Szczytowa długość fali emisji jest ograniczona w pobliżu fali krótkiej, dioda, która ma część promieniowania ultrafioletowego, nazywa się diodą emitującą światło ultrafioletowe; Jednak zwykle trzy powyższe rodzaje diod półprzewodnikowych są wspólnie nazywane diodami LED.

2. oś optyczna
Odnosi się do maksimum natężenie światła (lub intensywność promieniowania) kierunek linii środkowej.

3. V.F Napięcie przewodzenia
Odnosi się do spadku napięcia między biegunami, gdy prąd dodatni przez diody LED ma stałą wartość

4.JaR Prąd wsteczny

Odnosi się do prądu przez diodę elektroluminescencyjną, gdy napięcie wsteczne dodane na obu końcach diody elektroluminescencyjnej jest wartością stałą.
 
5. V.R Napięcie wsteczne
Odnosi się do spadku napięcia między biegunami, gdy prąd wsteczny przez badane urządzenie LED ma stałą wartość.
6 C Pojemność
Odnosi się do pojemności na obu końcach diody LED pod regulacją polaryzacji do przodu i częstotliwości.7 6. Czas przełączania
Minimalne i maksymalne oceny związane z następującymi pojęciami wynoszą 10% i 90%, chyba że zaznaczono inaczej.
 
7.1 tdon) Czas opóźnienia włączenia
Odnosi się do przedziału czasowego między najniższą oceną werandy impulsu wejściowego a najniższą oceną werandy impulsu wyjściowego.

7.2 tr Czas wschodu

Odnosi się do przedziału czasowego między najniższą oceną a najwyższą oceną ganku wyjściowego z impulsem wyjściowym.

7.3 ton Czas włączenia

Odnosi się do przedziału czasowego dodanego w urządzeniu między najniższą oceną werandy impulsu wejściowego a najwyższą oceną werandy impulsu wyjściowego.
ton = td (on) + tr
 
7.4 tmuskać) Czas opóźnienia wyłączenia

Odnosi się do przedziału czasu dodanego w urządzeniu między najwyższą oceną tylnego ganku impulsu wejściowego a najwyższą oceną tylnego ganku impulsu wyjściowego.

7.5 tf Czas upadku

Odnosi się do przedziału czasowego między najwyższą oceną a najniższą oceną ganku impulsu wyjściowego.
Warunki testowe i definicje diod LED

Odnosi się do odstępu czasu dodanego w urządzeniu między najniższą oceną ganku impulsu wejściowego a najniższą oceną ganku impulsu wyjściowego.
toff = td (off) + tf

8.Φv Strumień świetlny
Odnosi się do Strumień świetlny emitowane z okna optycznego urządzenia, gdy prąd przewodzenia przez diodę elektroluminescencyjną ma stałą wartość.
 
9.Φe Moc promieniowania
Odnosi się do mocy promieniowania emitowanej z okna optycznego urządzenia, gdy prąd przewodzenia przez diodę elektroluminescencyjną ma stałą wartość.
 
10.ηe Wydajność energetyczna promieniowania
Odnosi się do stosunku mocy promieniowania emitowanego przez urządzenie do mocy elektrycznej urządzenia (prąd dodatni IF zwielokrotnia napięcie przewodzenia V.F):
ηe = Φe/(JAF• VF)
Uwaga: Aby uniknąć pomyłek z innymi terminami, można go nazwać wydajnością promieniowania (sprawnością promieniowania).
 
11.ηv Wydajność strumienia świetlnego
Odnosi się do stosunku strumienia świetlnego Φv emitowane przez urządzenie i moc elektryczna urządzenia (prąd dodatni IF zwielokrotnia napięcie przewodzenia VF):
ηv = Φv/(JAF• VF)
Uwaga: Aby uniknąć pomyłek z innymi terminami, można to nazwać wydajnością świetlną.
 
12. Schemat rozkładu świetlnego (lub promieniowania) i powiązane właściwości

12.1 Iv Natężenie światła (lub Promiennika)
Strumień świetlny (lub promieniujący) emitowany przez źródło światła w obrębie kąta bryłowego na jednostkę można wyrazić jako Iv = d Φ / d Ω. Pojęcie natężenia światła (lub promieniowania) wymaga przyjęcia źródła promieniowania jako punktowego źródła promieniowania, lub jego rozmiar i obszar detektora światła są wystarczająco małe w porównaniu z odległością od niego do detektora światła, w tym przypadku źródła światła ( lub promieniowanie) na powierzchni detektora światła jest zgodne z twierdzeniem kwadratowym o odwrotnej odległości: E = I / d2. Tutaj I jest intensywnością źródeł promieniowania, d jest odległością od centrum promieniowania do centrum detektora. Ta sytuacja nazywa się warunkami dalekiego pola. Jednak w wielu aplikacjach odległość pomiaru LED jest stosunkowo krótka, względny rozmiar źródła jest zbyt duży lub kąt powierzchni detektora jest zbyt duży, są to tak zwane warunki bliskiego pola (A Bliskie pole Goniospektrroradiometr do pomiarów LED). W tym momencie natężenie światła (promieniowania) zależy od prawidłowych warunków pomiaru.
 
12.2 Uśredniona intensywność LED
Stosunek strumienia Φ napromieniowanego na fotodetektor z pewnej odległości za pomocą diody LED i kąta stałego Ω utworzonego przez detektor. Kąt bryłowy można obliczyć, używając proporcji S detektora do podzielenia kwadratu odległości pomiarowej.
I = Φ / Ω = Φ / (S / d2)
Standardowe warunki A i B zalecane przez CIE służą do pomiaru średniej intensywności diody LED w warunkach bliskiego pola, mogą być odpowiednio wyrażone za pomocą symboli Idioda Ai jaDioda LED B.. Użyj symboli ILED Ae i jaDioda LED Av odpowiednio reprezentują warunki standardowe A, pomiar średniej intensywności promieniowania LED i średniej intensywności LED.
 
12.3 Wykres Luminous (lub Radiant)
Odzwierciedlając charakterystykę rozkładu siły w przestrzeni emitującej światło (lub promieniowania) urządzenia:

Iv(lub jae) = f (θ)

Warunki testowe i definicje diod LED

Uwaga 1: o ile nie postanowiono inaczej, rozkład natężenia emitującego światło (lub promieniowania) należy uwzględnić w płaszczyźnie mechanicznej osi Z.
Uwaga 2: jeżeli wzór rozkładu intensywności emitującego światło (lub promieniowania) ma charakterystykę symetrii obrotu względem osi Z, rozkład przestrzeni intensywności emitującej światło (lub promieniowania) zapewnia tylko płaszczyznę.
Uwaga 3: jeżeli nie ma charakterystyk symetrii obrotu względem osi Z, rozkład natężenia emitującego światło (lub promieniowania) dla każdego rodzaju kąta θ powinien mieć wymagania, X, Y, kierunek Z powinny mieć szczegółowe i określone wymagania specyfikacji .

12.4 θ1/2 Kąt połowicznej intensywności
We wzorze rozkładu intensywności emitującego światło (lub promieniowania) kąt powstaje, gdy intensywność emitująca światło (lub promieniowanie) jest większa niż połowa maksymalnego stopnia intensywności.

12.5 Δθ Kąt niewspółosiowości
We wzorze rozkładu natężenia emitującego światło (lub promieniowania) kąt między maksymalną intensywnością natężenia światła (lub promieniowania) (oś optyczna) a osią mechaniczną Z.

13.Charakterystyka spektralna

13.1 Długość fali szczytowej emisji λp
Największa długość fali widmowej mocy promieniowania

13.2 Pasmo promieniowania widmowego z Δλ
Widmowa moc promieniowania jest równa lub większa niż połowa maksymalnego przedziału długości fali.

13.3 Widmowy rozkład mocy P (λ)
W zakresie długości fal promieniowania, rozkład mocy promieniowania dla każdej długości fali.

Metoda testowania diod LED: Metody testowania charakterystyk elektrycznych

Metoda testowania diod LED: Metody pomiaru charakterystyk światła

Metoda testowania diod LED: Strumień świetlny i wydajność świetlna

Metoda testowania diod LED: Strumień promieniowania i wydajność promieniowania

Metoda testowania diod LED: szczytowa długość fali emisji, szerokość pasma promieniowania widmowego i rozkład mocy widma


Metoda testowania diod LED: Metoda testowania właściwości fotoelektrycznych - czas przełączania

Lisun Firma Instruments Limited została znaleziona przez LISUN GROUP w 2003 roku. LISUN system jakości został ściśle certyfikowany przez ISO9001: 2015. Jako członek CIE, LISUN produkty są projektowane w oparciu o normy CIE, IEC i inne normy międzynarodowe lub krajowe. Wszystkie produkty przeszły certyfikat CE i zostały uwierzytelnione przez zewnętrzne laboratorium.

Naszymi głównymi produktami są GoniofotometrIntegracja KuliSpektroradiometrGenerator przepięćPistolety do symulatorów ESDOdbiornik EMISprzęt testowy EMCTester bezpieczeństwa elektrycznegoizba środowiskaizba TemperaturaKomora klimatycznaKomora termicznaTest w komorze solnejKomora do badania pyłuWodoodporny testTest RoHS (EDXRF)Test świecącego drutu i Test płomienia igłowego.

Skontaktuj się z nami, jeśli potrzebujesz wsparcia.
Dział techniczny: Service@Lisungroup.com, Cell / WhatsApp: +8615317907381
Dział sprzedaży: Sales@Lisungroup.com, Cell / WhatsApp: +8618117273997

Tagi: , , , , ,

Zostaw wiadomość

Twoj adres e-mail nie bedzie opublikowany. Wymagane pola są zaznaczone *

=